材料的導電性是由于物質(zhì)內(nèi)部存在傳遞電流的自由電荷，這些自由電荷通常稱為載流子，他們可以是電子、空穴、也可以是正負離子。在弱電場作用下，材料的載流子發(fā)生遷移引起導電。材料的導電性能通常用與尺寸無關的電阻率或電導率表示，體積電阻率以及表面電阻率是材料導電性的一種表示方式。隨著電子設備的不斷更新?lián)Q代，對于基礎材料的絕緣性能的要求也越來越高，老一代的設備在測試精度以及測試量程方面越來越顯得拙荊見肘，是德科技B2598A高阻計的出現(xiàn)，將電阻測試的精度以及量程提高到了一個新的范圍。
2. 測試原理體積電阻率測量一般采用圖1所示的測試夾具電極配置 — 將電壓源 Vs 施加到上電極，指定流經(jīng)測試樣品的大電流為 Im，隨后體積電阻率 Rv 用公式 Rv = Vs/Im 計算。從測試樣品流向保護電極的大電流和從上電極流向保護電極的表面電流都屬于泄露電流；然而這些電流都會進入 Vs 的低側，不會對用于計算 Rv 的電流表電流 (Im) 的大小造成影響。體積電阻率 Rv 可用公式rv = EAR/STH x Rv 計算出，其中:EAR = Effective area 有效面積STH = Sample thickness 樣品厚度
圖1 體積電阻測試原理
表面電阻率測量一般采用圖 2 所示的電極配置 — 將電壓源 Vs 施加到護環(huán)電極，在測試樣品表面上的電流從保護電極流向主電極，表面電流被指定為 Im。表面電阻 Rs 可用公式 Rs = Vs/Im 計算。從護環(huán)流向上電極的電流是泄露電流；然而這個電流會流入 Vs 的低側，不會對用于計算 Rv 的電流表電流 (Im) 的大小造成影響。表面電阻可用公式rs = EPER/GLEN x Rs 計算出，其中:EPER = Effective perimeter 有效周長
圖2表面電阻測試原理
3. 相關測試標準
GB/T 4722-2017 8.3 《印制電路用印制電路用剛性覆銅箔層壓板試驗方法》
IPC-TM-650 2.5.17.1 《絕緣材料的體積電阻率和表面電阻率》
4. 設備特點
以前，工程師在執(zhí)行高電阻和電阻率測量時，必須對測量專業(yè)技術非常熟悉才能獲得準確的測量結果。因為超低電流測量極易受到各種環(huán)境因素的影響。造成誤差的來源通常有: 泄漏電流、放電電流或吸收電流、測試設備接地/浮置問題，以及測試設備物理結構所產(chǎn)生的環(huán)境噪聲等等。B2985A高阻計可以提供出色的 10 aA (0.01 fA) 最小電流分辨率、10 PΩ(1016 Ω) 電阻測量功能，及其他許多功能特性，例如直方圖和趨勢圖視圖、直觀的測量導航，因此能夠顯著增強用戶的測量信心。隨著B2985A高阻計的安裝調(diào)試完成，將電阻的測試量程從原來的1013Ω提升到了1016Ω，測試的效率及測試準確性也有了更大的提升。在高性能絕緣板的測試方面提供了更大的助力。